發(fā)布日期:2014-04-26
有許多因素會(huì)影響老化房老化測(cè)試系統(tǒng)的整體性能,下面是一些主要方面:
1.老化房計(jì)算機(jī)主機(jī)與測(cè)試系統(tǒng)之間的通信。由于功能測(cè)試程序非常長(zhǎng),因此測(cè)試硬件的設(shè)計(jì)應(yīng)盡可能提高速度。一些系統(tǒng)使用較慢的串行通信,如RS-232C或者類似協(xié)議,而另一些系統(tǒng)則使用雙向并行總線系統(tǒng),大大提高了數(shù)據(jù)流通率。
2.根據(jù)時(shí)間動(dòng)態(tài)改變測(cè)試參數(shù)的能力,如電壓與頻率。如果老化測(cè)試系統(tǒng)能夠即時(shí)改變參數(shù),則可以加快通常屬于產(chǎn)品壽命后期階段故障的出現(xiàn)。對(duì)于某些器件結(jié)構(gòu),直流電壓偏置及動(dòng)態(tài)信號(hào)的功率變動(dòng)都可加速出現(xiàn)晚期壽命故障。
3.系統(tǒng)提供參數(shù)測(cè)試的能力。如果老化測(cè)試系統(tǒng)能進(jìn)行一些速度測(cè)試,那么還可得到其他一些相關(guān)失效數(shù)據(jù)以進(jìn)行可靠性研究,這也有助于精簡(jiǎn)老化后測(cè)試工藝。
4.對(duì)高速測(cè)試儀程序的下載及轉(zhuǎn)換能力。有些老化測(cè)試系統(tǒng)有自己的測(cè)試語言,對(duì)需要做100%節(jié)點(diǎn)切換的被測(cè)器件不用再開發(fā)程序;而有些系統(tǒng)能夠把高速測(cè)試儀程序直接轉(zhuǎn)換到老化應(yīng)用上,可以在老化過程中進(jìn)行更準(zhǔn)確的測(cè)試。
5.計(jì)算機(jī)接口與數(shù)據(jù)采集方式。有些老化測(cè)試系統(tǒng)采用分區(qū)方法,一個(gè)數(shù)據(jù)采集主機(jī)控制多個(gè)老化板,另外有些系統(tǒng)則是單板式采集。從實(shí)際情況來看,單板式方法可以采集到更多數(shù)據(jù),而且可能還具有更大的測(cè)試產(chǎn)量。
6.首先是老化房測(cè)試方法的選擇。理想的情況是器件在老化工藝上花費(fèi)的時(shí)間最少,這樣可以提高總體產(chǎn)量。惡劣的電性能條件有助于故障加速出現(xiàn),因此能快速進(jìn)行反復(fù)測(cè)試的系統(tǒng)可減少總體老化時(shí)間。每單位時(shí)間里內(nèi)部節(jié)點(diǎn)切換次數(shù)越多,器件受到的考驗(yàn)就越大,故障也就出現(xiàn)得更快。
7.老化房老化板互連性、PCB設(shè)計(jì)以及偏置電路的復(fù)雜性。老化測(cè)試系統(tǒng)可能被有些人稱為高速測(cè)試,但是,如果機(jī)械連接或老化板本身特性會(huì)削弱信號(hào)質(zhì)量,那么測(cè)試速度將會(huì)是一個(gè)問題。如像過多機(jī)電性連接會(huì)增大整個(gè)系統(tǒng)的總電容和電感、老化板設(shè)計(jì)不良會(huì)產(chǎn)生噪聲和串?dāng)_、而很差的引腳驅(qū)動(dòng)器設(shè)計(jì)則會(huì)使快速信號(hào)沿所需的驅(qū)動(dòng)電流大小受到限制等等,這些都僅是一部分影響速度的瓶頸,另外由于負(fù)載過大并存在阻抗、電路偏置以及保護(hù)元件值的選擇等也會(huì)使老化的性能受到影響。